Năm 2016, Mya Le Thai, khi đó là nghiên cứu sinh tiến sĩ tại Đại học California, Irvine (UCI), Mỹ, tình cờ phát hiện phương pháp giúp tăng đáng kể độ bền của vật liệu dùng trong pin sạc.
Kết quả thí nghiệm cho thấy thiết bị có thể chịu được hàng trăm nghìn chu kỳ sạc xả, tương đương tuổi thọ lý thuyết khoảng 400 năm nếu quy đổi theo pin máy tính xách tay thông thường.





