Nghiên cứu do giáo sư Zhongwei Chen và Changfu Zou dẫn đầu phân tích dữ liệu vận hành thực tế hơn 3 năm của xe điện.
Xe điện có thể lãng phí tới 27% năng lượng do sự chênh lệch dung lượng giữa các cell pin trong cụm.
Khi xe vượt mốc 170.000 km, sự suy giảm sức khỏe của bộ pin trên xe con là 6,2% và xe buýt là 7,5%.
Nhóm nghiên cứu đề xuất cải thiện tính đồng đều khi sản xuất và áp dụng hệ thống pin tái cấu hình để giảm tác động từ các cell yếu.
Theo nghiên cứu công bố trên tạp chí Nature Energy, một cụm pin xe điện có thể chạm ngưỡng ngừng sử dụng ngay cả khi phần lớn các cell pin bên trong vẫn còn dung lượng dồi dào. Nguyên nhân bắt nguồn từ một lượng nhỏ cell pin bị lão hóa nhanh, kéo tụt tuổi thọ của toàn bộ cụm pin và khiến lượng lớn năng lượng tiềm năng không được khai thác.
Xe điện có thể lãng phí tới 27% năng lượng do cell pin chai lệch.
